Okiem testera – tam gdzie hardware łączy się z softwarem

Prelegent: Łukasz Rybak

Mało kto zastanawia się, jak przebiega proces produkcji układów mikroelektronicznych z punktu widzenia zapewnienia jakości finalnego produktu. Coraz większe projekty wymuszają ciągły i bardzo dynamiczny rozwój dziedziny znanej jako DFT (design for testability), ale i narzędzi wspomagających cały proces testowy. W ramach prezentacji przedstawione zostaną podstawowe koncepty wykorzystywane przez największe firmy produkujące układy mikroelektroniczne, jak i problemy, z którymi należy się zmierzyć, by zapewnić wysoką jakość komercyjnego oprogramowania.

Specyfika oprogramowania tworzonego do testowania układów mikroelektoronicznych wykorzystywanych w urządzeniach powszechnego użytku różni się od klasycznych aplikacji desktopowych, jak i mobilnych. Bardzo duża dynamika rynku, zgodna z prawem Moore’a powoduje, że z roku na rok wymagania stawiane przed narzędziami wspomagającymi proces implementacji ciągle się zmienia. Wszystko to warunkuje sposób, w jaki należy podejść do testowania tego typu programów, jak rozwijać w pełni zautomatyzowaną infrastrukturę testową, pozwalającą zarządzać dziesiątkami tysięcy testów regresyjnych analizowanymi codziennie.


Tagged under:

Program konferencji

TwitterFacebookLinkedInGoogle+